一、X射線熒光光譜儀 簡(jiǎn)介： 奧林巴斯 X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、油品、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具、大型工程、鍋爐制造、再生資源金屬、玻璃的回收、刑事證據(jù)鑒定等各種不同領(lǐng)域的日常分析。檢測(cè)元素：（1）合金模式： Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Zr、Nb、Mo、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Hf、Ta、W、Re、Pb、Bi、Au等24種元素（2）貴金屬模式: Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、Zr、、Mo、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、W、Os、Ir、Pt、Au、Pb、Bi等26種元素二、應(yīng)用領(lǐng)域：（1）安全和合規(guī)檢查篩查諸如玩具、服裝和鞋類(lèi)，以及電子設(shè)備等消費(fèi)產(chǎn)品中的鉛、鎘、砷、汞、鉻及其它有毒金屬元素；（2）材料可靠性鑒別（PMI）根據(jù)USA石油學(xué)會(huì)推薦規(guī)程578 （API-RP-578）驗(yàn)證是否在關(guān)鍵位置上安裝了正確的合金；（3）制造業(yè)質(zhì)量控制企業(yè)生產(chǎn)通過(guò)Vanta分析儀現(xiàn)場(chǎng)快速完成金屬的牌號(hào)、化學(xué)成分品質(zhì)檢測(cè)；（4）金屬鍍層側(cè)厚Vanta分析儀的鍍層模式可以在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量出以微米為單位的涂層厚度；（5）地球化學(xué)和礦業(yè)勘探包括礦業(yè)勘探中地表露頭和鉆芯分析，選礦分析以及土壤，污水，植物的重金屬或者營(yíng)養(yǎng)元素分析（6）汽車(chē)三元催化劑測(cè)試汽車(chē)排氣管里一般有Pt,Pa,Rh三個(gè)元素組成的催化劑，Vanta手持式分析儀可以快速的測(cè)試出里邊具體含有哪些元素和PPM級(jí)別的含量成分；（7）珠寶和貴金屬的鑒別鑒別：如金、銀、鉑、鈀等，可以根據(jù)金屬純度進(jìn)行分類(lèi)（0到24克拉）；（8）堅(jiān)固通過(guò)USA標(biāo)準(zhǔn)810G和1.2米跌落測(cè)試，IP 54個(gè)方向水濺射試驗(yàn)等；（9）革新奧林巴斯新開(kāi)發(fā)的Axon技術(shù)，提高了XRF信號(hào)處理的性能，在每秒鐘之內(nèi)可完成更高的X射線計(jì)數(shù)，從而可以更快的速度獲得更可靠的結(jié)果。（10）效率高• 用戶(hù)可以自行定制顯示在主屏幕上的功能快捷鍵。• 可以通過(guò)一個(gè)U盤(pán)、SD卡、Wi-Fi或藍(lán)牙功能，云應(yīng)用等方便地將數(shù)據(jù)導(dǎo)出。• 符合人體工程學(xué)要求的按鈕以及工業(yè)級(jí)別的操控桿按鈕，可使用戶(hù)在戴著手套使用。三、奧林巴斯 VEL   X射線熒光光譜儀主要參數(shù)性能